Soustava pro měření zbytkových napětí v polykrystalických materiálech metodou rentgenové difrakce

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F08%3A04153511" target="_blank" >RIV/68407700:21340/08:04153511 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Soustava pro měření zbytkových napětí v polykrystalických materiálech metodou rentgenové difrakce
Popis výsledku v původním jazyce
Předmětem užitného vzoru je soustava pro měření zbytkových napětí v polykrystalických materiálech metodou rentgenové difrakce navržená a realizovaná v laboratoři strukturní rentgenografie FJFI ČVUT v Praze
Název v anglickém jazyce
Measuring Set for X-ray Diffraction Residual Stress Determination in Polycrystalline Materials
Popis výsledku anglicky
The subject of the document is a measuring met for X-ray diffraction residual Stress determination in polycrystalline materials designed and realised in the X-ray diffraction laboratory of the Czech technical university in Prague.

Projekt
<a href="/cs/project/GA106%2F07%2F0805" target="_blank" >GA106/07/0805: Komplexní sktrukturní analýza gradientu vlastností povrchových vrstev významných technických materiálů po mechanickém opracování</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Číslo patentu nebo vzoru
19121
Vydavatel
—
Název vydavatele
—
Místo vydání
—
Stát vydání
—
Datum přijetí
—
Název vlastníka
České vysoké učení technické v Praze
Způsob využití
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Druh možnosti využití
P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence

Podobné výsledky(10)