X-ray Diffraction Analysis of Thin Layers Prepared from Nanocomposite n(AlxTi1-xN)/?Si3N4

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F10%3A00178299" target="_blank" >RIV/68407700:21340/10:00178299 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

X-ray Diffraction Analysis of Thin Layers Prepared from Nanocomposite n(AlxTi1-xN)/?Si3N4

Popis výsledku v původním jazyce

The aim of the report is to outline results of the X-ray diffraction analysis of thin layers prepared from nanocomposite n(AlxTi1-xN)/?Si3N4.

Název v anglickém jazyce

X-ray Diffraction Analysis of Thin Layers Prepared from Nanocomposite n(AlxTi1-xN)/?Si3N4

Popis výsledku anglicky

The aim of the report is to outline results of the X-ray diffraction analysis of thin layers prepared from nanocomposite n(AlxTi1-xN)/?Si3N4.

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

JG - Hutnictví, kovové materiály

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů