Temperature Dependent Output Characteristics of Pr:YAP Microchip Lasers at 747 nm and 662 nm Wavelengths
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F11%3A00181194" target="_blank" >RIV/68407700:21340/11:00181194 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/CLEOE.2011.5942542" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/CLEOE.2011.5942542</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/CLEOE.2011.5942542" target="_blank" >10.1109/CLEOE.2011.5942542</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Temperature Dependent Output Characteristics of Pr:YAP Microchip Lasers at 747 nm and 662 nm Wavelengths
Popis výsledku v původním jazyce
In this contribution, following our previous Pr:YAP crystal investigation, continuous-wave Pr:YAP microchip laser systems operating at 747 and 662 nm wavelength are reported. Moreover, temperature behavior of the gain media in term of laser output properties and emission spectra are described. Laser cavity was formed by dielectric films directly deposited on the crystal surfaces. For longitudinally pumping of the Pr:YAP materials, a 1-W GaN laser diode operating around 448 nm was employed.
Název v anglickém jazyce
Temperature Dependent Output Characteristics of Pr:YAP Microchip Lasers at 747 nm and 662 nm Wavelengths
Popis výsledku anglicky
In this contribution, following our previous Pr:YAP crystal investigation, continuous-wave Pr:YAP microchip laser systems operating at 747 and 662 nm wavelength are reported. Moreover, temperature behavior of the gain media in term of laser output properties and emission spectra are described. Laser cavity was formed by dielectric films directly deposited on the crystal surfaces. For longitudinally pumping of the Pr:YAP materials, a 1-W GaN laser diode operating around 448 nm was employed.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
CLEO/Europe-EQEC 2011 Conference Digist
ISBN
978-1-4577-0532-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
1
Strana od-do
"CA-P34Sun"
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
New Jersey
Místo konání akce
Mnichov
Datum konání akce
22. 5. 2011
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—