Dispersion Properties of Subwavelength Grating SOI Waveguides

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F13%3A00214825" target="_blank" >RIV/68407700:21340/13:00214825 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/67985882:_____/13:00426759

Výsledek na webu

<a href="http://piers.org/piersproceedings/piers2013StockholmProc.php" target="_blank" >http://piers.org/piersproceedings/piers2013StockholmProc.php</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Dispersion Properties of Subwavelength Grating SOI Waveguides

Popis výsledku v původním jazyce

Segmented subwavelength grating waveguides can be effectively applied to fabricate optical waveguides with very different properties using a standard silicon-on-insulator fabrication technology with one-lithographic step only. The subwavelength grating waveguides can be interpreted as a waveguide with the refractive index reduced by interlacing high-index Si segments with a low-index material (silica or a suitable polymer). However, for real applications, the mode field confinement and the dispersion properties of such waveguides have to be known with much greater accuracy than this simple approximation allows. In this contribution, we present results of a full-vector 3D modeling of subwavelength grating waveguides using our in-house Fourier modal methods. Dependencies of both phase and group effective indices of Bloch modes in the wide wavelength range on the geometrical parameters of the waveguides are presented. Three typical values of Si thickness used in SOI technology are conside

Název v anglickém jazyce

Dispersion Properties of Subwavelength Grating SOI Waveguides

Popis výsledku anglicky

Segmented subwavelength grating waveguides can be effectively applied to fabricate optical waveguides with very different properties using a standard silicon-on-insulator fabrication technology with one-lithographic step only. The subwavelength grating waveguides can be interpreted as a waveguide with the refractive index reduced by interlacing high-index Si segments with a low-index material (silica or a suitable polymer). However, for real applications, the mode field confinement and the dispersion properties of such waveguides have to be known with much greater accuracy than this simple approximation allows. In this contribution, we present results of a full-vector 3D modeling of subwavelength grating waveguides using our in-house Fourier modal methods. Dependencies of both phase and group effective indices of Bloch modes in the wide wavelength range on the geometrical parameters of the waveguides are presented. Three typical values of Si thickness used in SOI technology are conside

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GAP205%2F10%2F0046" target="_blank" >GAP205/10/0046: Fyzika a pokročilé simulace fotonických a plazmonických struktur</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of PIERS 2013 in Stockholm

ISBN

978-1-934142-26-4

ISSN

1559-9450

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

1613-1617

Název nakladatele

Electromagnetics Academy

Místo vydání

Cambridge

Místo konání akce

Stockholm

Datum konání akce

12. 8. 2013

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—