Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characterization of Sputter-Deposited NiTi Thin Film by Nanoindentation

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F15%3A00235441" target="_blank" >RIV/68407700:21340/15:00235441 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.662.87" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.662.87</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.662.87" target="_blank" >10.4028/www.scientific.net/KEM.662.87</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterization of Sputter-Deposited NiTi Thin Film by Nanoindentation

  • Popis výsledku v původním jazyce

    NiTi shape memory alloy thin film sputter-deposited on a large scale silicon wafer was characterized by means of instrumented (depth-sensing) indentation technique. Thickness of deposited thin film was measured by calotest device. Microstructure of thinfilm was observed using differential interference (Nomarski) contrast. It was shown that the local mechanical properties are different in areas containing different phases (austenite and martensite) according to different deposition conditions (kinetic energy of deposited atoms when impacting the substrate surface).

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization of Sputter-Deposited NiTi Thin Film by Nanoindentation

  • Popis výsledku anglicky

    NiTi shape memory alloy thin film sputter-deposited on a large scale silicon wafer was characterized by means of instrumented (depth-sensing) indentation technique. Thickness of deposited thin film was measured by calotest device. Microstructure of thinfilm was observed using differential interference (Nomarski) contrast. It was shown that the local mechanical properties are different in areas containing different phases (austenite and martensite) according to different deposition conditions (kinetic energy of deposited atoms when impacting the substrate surface).

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JG - Hutnictví, kovové materiály

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA14-03044S" target="_blank" >GA14-03044S: Příprava slitin NiTi s tvarovou pamětí reaktivní sintrací</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Mechanical Properties of Materials from Nano to Micro/Meso-Scale

  • ISBN

    978-3-03835-555-7

  • ISSN

    1013-9826

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    87-90

  • Název nakladatele

    TRANS TECH PUBLICATIONS LTD

  • Místo vydání

    ZURICH

  • Místo konání akce

    Stará Lesná

  • Datum konání akce

    12. 11. 2014

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku