Space optics with silicon wafers and slumped glass

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F17%3A00369329" target="_blank" >RIV/68407700:21340/17:00369329 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1117/12.2308249" target="_blank" >https://doi.org/10.1117/12.2308249</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2308249" target="_blank" >10.1117/12.2308249</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Space optics with silicon wafers and slumped glass
Popis výsledku v původním jazyce
The future space X-ray astronomy imaging missions require very large collecting areas at still fine angular resolution and reasonable weight. The novel substrates for X-ray mirrors such as Silicon wafers and thin thermally formed glass enable wide applications of precise and very light weight (volume densities 2.3 to 2.5 gcm-3) optics. The recent status of novel technologies as well as developed test samples with emphasis on precise optical surfaces based on novel materials and their space applications is presented and discussed.
Název v anglickém jazyce
Space optics with silicon wafers and slumped glass
Popis výsledku anglicky
The future space X-ray astronomy imaging missions require very large collecting areas at still fine angular resolution and reasonable weight. The novel substrates for X-ray mirrors such as Silicon wafers and thin thermally formed glass enable wide applications of precise and very light weight (volume densities 2.3 to 2.5 gcm-3) optics. The recent status of novel technologies as well as developed test samples with emphasis on precise optical surfaces based on novel materials and their space applications is presented and discussed.

Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proc. SPIE 10566, International Conference on Space Optics — ICSO 2008
ISBN
978-1-5106-1621-9
ISSN
0277-786X
e-ISSN
1996-756X
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham (stát Washington)
Místo konání akce
Toulouse
Datum konání akce
14. 10. 2008
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)