High-flux source of coherent XUV pulses for user applications
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F19%3A00357951" target="_blank" >RIV/68407700:21340/19:00357951 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68378271:_____/19:00521658
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1364/OE.27.008871" target="_blank" >https://doi.org/10.1364/OE.27.008871</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1364/OE.27.008871" target="_blank" >10.1364/OE.27.008871</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
High-flux source of coherent XUV pulses for user applications
Popis výsledku v původním jazyce
We present experimental results obtained at a user-oriented XUV beamline implemented at the ELI Beamlines facility. The coherent XUV radiation is produced via high harmonic generation in gases in a loose focusing geometry. The beamline is designed to be driven by 1 kHz, 100 mJ, 20 fs pulses centered at a wavelength of 830 nm. Results such as XUV spectra, beam wavefront and pulse energy obtained during the beamline commissioning with a commercial 1 kHz, 5 mJ, 40 fs laser system are presented. A unique XUV spectrometer for source characterization designed to reach a very high sensitivity is described in detail, and we demonstrate a novel technique for single-shot and every-shot XUV pulse energy measurement.
Název v anglickém jazyce
High-flux source of coherent XUV pulses for user applications
Popis výsledku anglicky
We present experimental results obtained at a user-oriented XUV beamline implemented at the ELI Beamlines facility. The coherent XUV radiation is produced via high harmonic generation in gases in a loose focusing geometry. The beamline is designed to be driven by 1 kHz, 100 mJ, 20 fs pulses centered at a wavelength of 830 nm. Results such as XUV spectra, beam wavefront and pulse energy obtained during the beamline commissioning with a commercial 1 kHz, 5 mJ, 40 fs laser system are presented. A unique XUV spectrometer for source characterization designed to reach a very high sensitivity is described in detail, and we demonstrate a novel technique for single-shot and every-shot XUV pulse energy measurement.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2019
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Optics Express
ISSN
1094-4087
e-ISSN
1094-4087
Svazek periodika
27
Číslo periodika v rámci svazku
6
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
13
Strana od-do
8871-8883
Kód UT WoS článku
000461473400088
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85063463476