Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Příprava a analýza tenkých vrstev slitin s vysokou entropií nanesených metodou Ionized Jet Deposition

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F20%3A00344690" target="_blank" >RIV/68407700:21340/20:00344690 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Příprava a analýza tenkých vrstev slitin s vysokou entropií nanesených metodou Ionized Jet Deposition

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Metodou Ionized Jet Deposition bylo připraveno dvanáct tenkých vrstev. Terčem, ze kterého probíhalo nanášení, byla slitina s vysokou entropií HfNbTaTiZr. Provedli jsme analýzu mikrostruktury nanesených tenkých vrstev pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu, energiově - disperzního spektroskopu a rentgenovou difrakcí. Bylo zjištěno, že vrstvy vznikající za nižšího urychlovacího napětí jsou homogennější a velikost nehomogenit je řádově menší než na vrstvách vzniklých za vyššího napětí. Všechny vrstvy mají homogenní procentuální zastoupení prvků a nanesené vrstvy krystalizují ve stejných strukturách. Popsali jsme charakter vzniklých nehomogenit a důvod jejich vzniku.

  • Název v anglickém jazyce

    Preparation and analysis of High Entropy Alloys thin films deposited by Ionized Jet Deposition method

  • Popis výsledku anglicky

    High Entropy Alloys constitute a new class of multi-component materials with unexpected properties. Several thin layers of HEAs were prepared using the Ionized Jet Deposition method. The target, from which the samples were prepared, was a high entropy alloy of HfNbTaTiZr. Samples were then analyzed by scanning electron microscopy, energy-dispersion spectroscopy and X-ray diffraction. The aim was to analyze the impact of different sets of deposition parameteres on the microstructure of thin layers.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20506 - Coating and films

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Sborník příspěvků 9. Studentské vědecké konference fyziky pevných látek a materiálů

  • ISBN

    978-80-01-06799-4

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    7-12

  • Název nakladatele

    České vysoké učení technické v Praze

  • Místo vydání

    Praha

  • Místo konání akce

    Praha

  • Datum konání akce

    6. 10. 2020

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku