Příprava a analýza tenkých vrstev slitin s vysokou entropií nanesených metodou Ionized Jet Deposition
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F20%3A00344690" target="_blank" >RIV/68407700:21340/20:00344690 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Příprava a analýza tenkých vrstev slitin s vysokou entropií nanesených metodou Ionized Jet Deposition
Popis výsledku v původním jazyce
Metodou Ionized Jet Deposition bylo připraveno dvanáct tenkých vrstev. Terčem, ze kterého probíhalo nanášení, byla slitina s vysokou entropií HfNbTaTiZr. Provedli jsme analýzu mikrostruktury nanesených tenkých vrstev pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu, energiově - disperzního spektroskopu a rentgenovou difrakcí. Bylo zjištěno, že vrstvy vznikající za nižšího urychlovacího napětí jsou homogennější a velikost nehomogenit je řádově menší než na vrstvách vzniklých za vyššího napětí. Všechny vrstvy mají homogenní procentuální zastoupení prvků a nanesené vrstvy krystalizují ve stejných strukturách. Popsali jsme charakter vzniklých nehomogenit a důvod jejich vzniku.
Název v anglickém jazyce
Preparation and analysis of High Entropy Alloys thin films deposited by Ionized Jet Deposition method
Popis výsledku anglicky
High Entropy Alloys constitute a new class of multi-component materials with unexpected properties. Several thin layers of HEAs were prepared using the Ionized Jet Deposition method. The target, from which the samples were prepared, was a high entropy alloy of HfNbTaTiZr. Samples were then analyzed by scanning electron microscopy, energy-dispersion spectroscopy and X-ray diffraction. The aim was to analyze the impact of different sets of deposition parameteres on the microstructure of thin layers.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20506 - Coating and films
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Sborník příspěvků 9. Studentské vědecké konference fyziky pevných látek a materiálů
ISBN
978-80-01-06799-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
7-12
Název nakladatele
České vysoké učení technické v Praze
Místo vydání
Praha
Místo konání akce
Praha
Datum konání akce
6. 10. 2020
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—