Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Periodic Oscillations of Thin Film Properties with Their Thickness for Mixed Real Bi2(M+N)Te3N Phases

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21460%2F05%3A00113039" target="_blank" >RIV/68407700:21460/05:00113039 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Periodic Oscillations of Thin Film Properties with Their Thickness for Mixed Real Bi2(M+N)Te3N Phases

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Thin films were grown by pulsed laser deposition from Bi2Te3 target on fused silica substrates at substrate temperature of 410 °C. The reproducibility of the process was confirmed. The films were completely crystalline, textured with BiTe, Bi2Te3 and Bi3Te4 phases present. Bi/Te ratio in the films varied from 1.15 to 1.23. Films with various thicknesses were grown at the same deposition conditions in the second experiment. Film thickness varied from 20 to 350 nm. Hall mobility and the concentration of carrier of the films with different thicknesses were measured and oscillations were observed.

  • Název v anglickém jazyce

    Periodic Oscillations of Thin Film Properties with Their Thickness for Mixed Real Bi2(M+N)Te3N Phases

  • Popis výsledku anglicky

    Thin films were grown by pulsed laser deposition from Bi2Te3 target on fused silica substrates at substrate temperature of 410 °C. The reproducibility of the process was confirmed. The films were completely crystalline, textured with BiTe, Bi2Te3 and Bi3Te4 phases present. Bi/Te ratio in the films varied from 1.15 to 1.23. Films with various thicknesses were grown at the same deposition conditions in the second experiment. Film thickness varied from 20 to 350 nm. Hall mobility and the concentration of carrier of the films with different thicknesses were measured and oscillations were observed.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    V - Vyzkumna aktivita podporovana z jinych verejnych zdroju

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Surface and Coatings Technology

  • ISSN

    0257-8972

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    200

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1-4

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000232327800060

  • EID výsledku v databázi Scopus