Time-domain UV-VIS luminescence spectrometer for characterization of luminescence kinetics of solids excited by nanosecond pulse of soft X-ray source and/or UV laser

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21460%2F12%3A00190843" target="_blank" >RIV/68407700:21460/12:00190843 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.fbmi.cvut.cz/fvz/190843" target="_blank" >http://www.fbmi.cvut.cz/fvz/190843</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Time-domain UV-VIS luminescence spectrometer for characterization of luminescence kinetics of solids excited by nanosecond pulse of soft X-ray source and/or UV laser

Popis výsledku v původním jazyce

The table-top, time-domain UV-VIS luminescence spectrometer, featuring extended time and input sensitivity ranges and two excitation sources, is used for the comparative measurements of luminescence spectra and decay kinetics of scintillators. The luminescence of emission centers of a doped scintillator can be induced by conventional N2 laser pulse, while the complete scintillation process can be initiated by a soft X-ray/XUV pulse excitation from the laser-produced plasma in nitrogen gas puff target of4 ns duration. The advantage of the presently developed instrumentation for the measurement of scintillation response under XUV nanosecond pulses of low repetition frequency consists in extreme sensitivity given by very high absorption of ionizing XUV excitation in the sample (100 nm) and photomultiplier-based detection with averaging-feature of fast digital oscilloscope.

Název v anglickém jazyce

Time-domain UV-VIS luminescence spectrometer for characterization of luminescence kinetics of solids excited by nanosecond pulse of soft X-ray source and/or UV laser

Popis výsledku anglicky

The table-top, time-domain UV-VIS luminescence spectrometer, featuring extended time and input sensitivity ranges and two excitation sources, is used for the comparative measurements of luminescence spectra and decay kinetics of scintillators. The luminescence of emission centers of a doped scintillator can be induced by conventional N2 laser pulse, while the complete scintillation process can be initiated by a soft X-ray/XUV pulse excitation from the laser-produced plasma in nitrogen gas puff target of4 ns duration. The advantage of the presently developed instrumentation for the measurement of scintillation response under XUV nanosecond pulses of low repetition frequency consists in extreme sensitivity given by very high absorption of ionizing XUV excitation in the sample (100 nm) and photomultiplier-based detection with averaging-feature of fast digital oscilloscope.

Druh

G_funk - Funkční vzorek

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/KAN300100702" target="_blank" >KAN300100702: Vytváření a charakterizace nanostruktur rentgenovými lasery</a><br>

Návaznosti

V - Vyzkumna aktivita podporovana z jinych verejnych zdroju

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Interní identifikační kód produktu

XUV/UV/VIS luminiscenční spektro

Číselná identifikace

—

Technické parametry

rozměry: 2000x1000x750mm; hmotnost: 70 kg; napájení: 230V; provozní teplota 18-25 °C; rozsah detekovaných vlnových délek: 200-600nm, časová instrumentální odezva: 4 ns, max. velikost vzorku: 25x25x5mm

Ekonomické parametry

pouze pro nekomerční využití

Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

—

IČO vlastníka výsledku

68407700

Název vlastníka

ČVUT FBMI

Stát vlastníka

CZ - Česká republika

Druh možnosti využití

N - Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

Požadavek na licenční poplatek

—

Adresa www stránky s výsledkem

—