Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

NANO CT SYSTÉM

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F07%3A15142797" target="_blank" >RIV/68407700:21670/07:15142797 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    NANO CT SYSTEM

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We present a compact X-ray nanoradiographic and nanotomographic phase sensitive system based on nanofocus X-ray tube and position sensitive single photon counting pixel detector TimePix Quad (512 x 512 square pixels, pitch of 55 um) with 300 um thick silicon sensor. The apparatus is equipped with fully automatic and highly precise sample and detector positioning (13 degrees of freedom). The spectral sensitivity of the detector together with the polychromatic nature of the X-ray beam allows material determination (color imaging). Moreover, in phase sensitive configuration (allowing to visualize distribution of refractive index) it is possible to distinguish a transmission (attenuation) image from a phase (refractive) image. Spatial resolution of the system is on the submicrometer level and measuring times in order of seconds. The system can be used for many applications such as: material research, microelectronics, archaeology, biological studies (including in vivo) and others.

  • Název v anglickém jazyce

    NANO CT SYSTEM

  • Popis výsledku anglicky

    We present a compact X-ray nanoradiographic and nanotomographic phase sensitive system based on nanofocus X-ray tube and position sensitive single photon counting pixel detector TimePix Quad (512 x 512 square pixels, pitch of 55 um) with 300 um thick silicon sensor. The apparatus is equipped with fully automatic and highly precise sample and detector positioning (13 degrees of freedom). The spectral sensitivity of the detector together with the polychromatic nature of the X-ray beam allows material determination (color imaging). Moreover, in phase sensitive configuration (allowing to visualize distribution of refractive index) it is possible to distinguish a transmission (attenuation) image from a phase (refractive) image. Spatial resolution of the system is on the submicrometer level and measuring times in order of seconds. The system can be used for many applications such as: material research, microelectronics, archaeology, biological studies (including in vivo) and others.

Klasifikace

  • Druh

    X - Nezařazeno

  • CEP obor

    BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/1P04LA211" target="_blank" >1P04LA211: Spolupráce ČR s CERN</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů