X-ray polarimetry by means of Compton scattering in the sensor of a hybrid photon counting pixel detector

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F09%3A00165610" target="_blank" >RIV/68407700:21670/09:00165610 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

X-ray polarimetry by means of Compton scattering in the sensor of a hybrid photon counting pixel detector

Popis výsledku v původním jazyce

For the first time a hybrid semiconductor photon counting pixel detector has been used for measurements of linear X-ray polarization by exploiting the Compton effect in the silicon sensor layer. The time-to-shutter mode of the X-ray imaging detector Timepix was used to identify Compton-scattering events in the sensor layer by the analysis of coincidences. For irradiation with polarized X-ray photons of energies between 27 and 84 keV we were able to measure a large modulation factor of mu(meas) = (68.1 +/- 16.4)% for this type of X-ray polarimeter. Degree and orientation of linear polarization can be determined. This publication describes the experimental setup, data analysis method, measurement and simulation results, and gives first estimations on thepolarimetric performance for an application in X-ray astronomy.

Název v anglickém jazyce

X-ray polarimetry by means of Compton scattering in the sensor of a hybrid photon counting pixel detector

Popis výsledku anglicky

For the first time a hybrid semiconductor photon counting pixel detector has been used for measurements of linear X-ray polarization by exploiting the Compton effect in the silicon sensor layer. The time-to-shutter mode of the X-ray imaging detector Timepix was used to identify Compton-scattering events in the sensor layer by the analysis of coincidences. For irradiation with polarized X-ray photons of energies between 27 and 84 keV we were able to measure a large modulation factor of mu(meas) = (68.1 +/- 16.4)% for this type of X-ray polarimeter. Degree and orientation of linear polarization can be determined. This publication describes the experimental setup, data analysis method, measurement and simulation results, and gives first estimations on thepolarimetric performance for an application in X-ray astronomy.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/LC06041" target="_blank" >LC06041: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A, Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment

ISSN

0168-9002

e-ISSN

—

Svazek periodika

603

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000266829400025

EID výsledku v databázi Scopus

—