Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Simulation of a silicon neutron detector coated with TiB2 absorber

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F12%3A00191447" target="_blank" >RIV/68407700:21670/12:00191447 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://iopscience.iop.org/1748-0221/7/01/C01096" target="_blank" >http://iopscience.iop.org/1748-0221/7/01/C01096</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/7/01/C01096" target="_blank" >10.1088/1748-0221/7/01/C01096</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Simulation of a silicon neutron detector coated with TiB2 absorber

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Neutron radiation cannot be directly detected in semiconductor detectors and therefore needs converter layers. Planar clean-room processing can be used in the manufacturing process of semiconductor detectors with metal layers to produce a cost-effectivedevice. We used the Geant4 Monte-Carlo toolkit to simulate the performance of a semiconductor neutron detector. A silicon photo-diode was coated with vapour deposited titanium, aluminium thin films and a titaniumdiboride (TiB2) neutron absorber layer. The neutron capture reaction 10B(n, alpha)7Li is taken advantage of to create charged particles that can be counted. Boron-10 has a natural abundance of about SI 19.8%. The emitted alpha particles are absorbed in the underlying silicon detector. We variedthe thickness of the converter layer and ran the simulation with a thermal neutron source in order to find the best efficiency of the TiB2 converter layer and optimize the clean room process.

  • Název v anglickém jazyce

    Simulation of a silicon neutron detector coated with TiB2 absorber

  • Popis výsledku anglicky

    Neutron radiation cannot be directly detected in semiconductor detectors and therefore needs converter layers. Planar clean-room processing can be used in the manufacturing process of semiconductor detectors with metal layers to produce a cost-effectivedevice. We used the Geant4 Monte-Carlo toolkit to simulate the performance of a semiconductor neutron detector. A silicon photo-diode was coated with vapour deposited titanium, aluminium thin films and a titaniumdiboride (TiB2) neutron absorber layer. The neutron capture reaction 10B(n, alpha)7Li is taken advantage of to create charged particles that can be counted. Boron-10 has a natural abundance of about SI 19.8%. The emitted alpha particles are absorbed in the underlying silicon detector. We variedthe thickness of the converter layer and ran the simulation with a thermal neutron source in order to find the best efficiency of the TiB2 converter layer and optimize the clean room process.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BF - Elementární částice a fyzika vysokých energií

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LA08015" target="_blank" >LA08015: Spolupráce ČR s CERN</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Instrumentation

  • ISSN

    1748-0221

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    2012

  • Číslo periodika v rámci svazku

    7

  • Stát vydavatele periodika

    IT - Italská republika

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

    1-7

  • Kód UT WoS článku

    000303806200096

  • EID výsledku v databázi Scopus