isvav_result

publication_year

occurrences__organization__code

solver__id__sc2

result_type__code

Druh výsledku je určen klasifikací RIV, která je oficálním číselníkem IS VaVaI. Stručný přehled výsledků dle RIV je uveden <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1395" target="_blank" >zde</a>.

language__code

Jazyk výsledku udáva původní jazyk, ve kterém byl daný výsledek vytvořen. Kompletní seznam jazyků ve kterém je možno výsledek do RIV předložit je <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1397" target="_blank" >zde</a>.

cep__code

ford__code

_group_id67

occurrences__funder__code

Dodavatel dat je poskytovatel podpory na VaV, s jejíž pomocí bylo výsledku dosaženo.

project__programme__code

x_range_count_solvers

project__id

Co hledáte?

Rychlé hledání

Chytré vyhledávání

Filtry

Mueller Matrix Ellipsometric Approach on the Imaging of Sub-Wavelength Nanostructures

Ellipsometry - a tool for surface and thin film analysis

Characterization of the high harmonics source for the VUV ellipsometer at ELI Beamlines

Konstrukce elipsometru pro měření tenkých vrstev a povrchů.

Selective sensitivity of ellipsometry to magnetic nanostructures

Ellipsometric characterisation of thin films non-uniform in thickness

Optical Characterization of Materials by Spectroscopic Ellipsometry

Characterization of polymer thin ?lms deposited on aluminum ?lms by the combined optical method and atomic force microscopy

2nd ELIps Workshop

Assessment of non-uniform thin films using spectroscopic ellipsometry and imaging spectroscopic reflectometry