isvav_result

publication_year

occurrences__organization__code

solver__id__sc2

result_type__code

Druh výsledku je určen klasifikací RIV, která je oficálním číselníkem IS VaVaI. Stručný přehled výsledků dle RIV je uveden <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1395" target="_blank" >zde</a>.

language__code

Jazyk výsledku udáva původní jazyk, ve kterém byl daný výsledek vytvořen. Kompletní seznam jazyků ve kterém je možno výsledek do RIV předložit je <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1397" target="_blank" >zde</a>.

cep__code

ford__code

_group_id67

occurrences__funder__code

Dodavatel dat je poskytovatel podpory na VaV, s jejíž pomocí bylo výsledku dosaženo.

project__programme__code

x_range_count_solvers

project__id

Co hledáte?

Rychlé hledání

Chytré vyhledávání

Filtry

Imaging charge distribution within molecules by scanning probe microscopy

Molecular-Scale Characterization of Photoinduced Charge Separation in Mixed-Dimensional InSe-Organic van der Waals Heterostructures

Effect of Cu and Cr addition on the structure,anticorrosion andnanomechanical properties of new Al-Ni-Fe-(Cr,Cu) alloys

Multiphase Al-Zr-Fe alloys with intermetallic compounds structure: mechanisms of corrosion in 3.5% NaCl and H3BO3 aqueous solutions

Electrical characterization of locally charged oxidized nanocrystalline diamond films by Kelvin force microscopy

Charge storage in undoped hydrogenated amorphous silicon by ambient atomic force microscopy.

Back Electrode Influence on Opto-electronic Properties of Organic Photovoltaic Blend Characterized by Kelvin Probe Force Microscopy

Back electrode influence on opto-electronic properties of organic photovoltaic blend characterized by Kelvin probe force microscopy

Surface potential of nanodiamonds investigated by KPFM

Probing charges on the atomic scale by means of atomic force microscopy