isvav_result

publication_year

occurrences__organization__code

solver__id__sc2

result_type__code

Druh výsledku je určen klasifikací RIV, která je oficálním číselníkem IS VaVaI. Stručný přehled výsledků dle RIV je uveden <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1395" target="_blank" >zde</a>.

language__code

Jazyk výsledku udáva původní jazyk, ve kterém byl daný výsledek vytvořen. Kompletní seznam jazyků ve kterém je možno výsledek do RIV předložit je <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1397" target="_blank" >zde</a>.

cep__code

ford__code

_group_id67

occurrences__funder__code

Dodavatel dat je poskytovatel podpory na VaV, s jejíž pomocí bylo výsledku dosaženo.

project__programme__code

x_range_count_solvers

project__id

Co hledáte?

Rychlé hledání

Chytré vyhledávání

Filtry

Elastic, electronic and optical properties of SiGe2N4 under pressure: An ab initio study

Wide spectral range optical characterization of niobium pentoxide (Nb2O5) films by universal dispersion model

Dispersion model for optical thin films applicable in wide spectral range

Optical characterization of SiO2 thin films using universal dispersion model over wide spectral range

Optical characterization of ZnSe thin films

Determination of thicknesses and temperatures of crystalline silicon wafers from optical measurements in the far infrared region

Optical properties of the crystalline silicon wafers described using the universal dispersion model

Optical characterization of inhomogeneous thin films containing transition layers using the combined method of spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry based on multiple-beam interference model

Complete optical characterization of imperfect hydrogenated amorphous silicon layers by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry

Dispersion models describing interband electronic transitions combining Tauc's law and Lorentz model