Filtry
Conversion Electron Detectors for 57Fe Mössbauer Measurements
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2008 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
High-resolution spectroscopy of gaseous Kr-83m conversion electrons with the KATRIN experiment
Particles and field physics
- 2020 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
Towards state selective recombination of H-3(+) under astrophysically relevant conditions
Fluids and plasma physics (including surface physics)
- 2019 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
THE DEVELOPMENT OF A SUPER-STABLE DATUM POINT FOR MONITORING THE ENERGY SCALE OF ELECTRON SPECTROMETERS IN THE ENERGY RANGE UP TO 20 keV
BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače
- 2010 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Mössbauerovský spektrometr s detekcí konverzních elektronů a konverzního rentgenového záření
Mössbauerovský spektrometr s průtočným plynovým detektorem s registrací elektronů (90% He + 10% CH4) nebo rentgenového záření (90% Ar + 10% CH4).
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2007 •
- Gprot
Rok uplatnění
Gprot - Prototyp
About the information depth of backscattered electron imaging
Mechanical engineering
- 2017 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
About the information depth of backscattered electron imaging
Materials engineering
- 2017 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2009 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Approaches to the Collection Contrast in the Immersion Objective Lens of the Scanning Electron Microscope
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Collection contrast in the immersion objective lens of the scanning electron microscope
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
- 1 - 10 z 2 396