Near-field optics and microscopy

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU37697" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU37697 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Optika a mikroskopie v blízkém poli
Original language description
Rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (Scanning Near-field Optical Microscopy - SNOM) v sobě kombinuje ještě nedoceněný potenciál a technologii rastrovacích mikroskopů s lokální sondou s výkonností optických mikroskopů. SNOM spojuje skvělé spektroskopické a časové rozlišení klasických optických mikroskopů s příčnou rozlišovací schopností často lepší než 100 nm. V tomto přehledu jsou popsány základní principy SNOM s aperturními sondami a některé z jeho aplikací: vliv polarizace na kvalitu obbrazů, magnetické obrazy, lokální charakterizace fotonických součástek, polovodičů a defektů struktur. Tyto příklady ukazují, že SNOM poskytuje pohled do nanosvěta a není již jen pouhou raritou, nýbrž dozrává a stává se plnohodnotným nástrojem nedestruktivního bezkontaktního měření a manipulace.
Czech name
Optika a mikroskopie v blízkém poli
Czech description
—

Project
<a href="/en/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Semiconductors - local optical and electrical properties</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2003
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
3.konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických
ISBN
80-85960-51-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
9
Pages from-to
20-28
Publisher name
Vojenská akademie Brno
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Sep 11, 2003
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)