Detection of Backscattered Electrons in Low Voltage Scanning Electron Microscope

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU41779" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU41779 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Detection of Backscattered Electrons in Low Voltage Scanning Electron Microscope
Original language description
This paper deals with detection of backacattered electrons in scanning electron microscope when the accelerating voltage is 5 kV and less. New detection system for low energy backscattered electrons is shown.
Czech name
Detekce BSE v nízkonapěťovém rastrovacím elektronovém mikroskopu.
Czech description
Práce se zabývá problémem detekce BSE v SEM pri urychlovacím napětí 5 kV a mensím. V práci je popsán nový detekční systém zpětně odražených elektronů.

Project
<a href="/en/project/IBS2065107" target="_blank" >IBS2065107: Scanning electron microscopy for research of structure of wet materials</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Proceedings of the 10th conference Student EEICT 2004.
ISBN
80-214-2636-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
693-696
Publisher name
Vysoké učení technické v Brně
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Jun 29, 2004
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)