Diode Model Parameters Extraction
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU46127" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU46127 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Diode Model Parameters Extraction
Original language description
The contribution examines use of ISE-TCAD device simulation tools and the Star-HSPICE optimization tools to extract diode model parameters. The individual steps included in DESSIS diode simulation, INSPECT I-V electrical characteristics selection, HSPICEinput data formatting, model parameters optimization and model evaluation are analysed and described. The extraction methodology using DESSIS simulated data as real (measured) electrical characteristics and HSPICE optimization procedures is proposed annd applied to find the parameter values of the HSPICE diode model.
Czech name
Identifikace parametrů modelu diody
Czech description
Příspěvek popisuje využití simulačních prostředků ISE-TCAD a optimalizačních prostředků elektrického simulátoru Star-HSPICE pro identifikaci parametrů diodového modelu. Jsou analyzovány a popsány jednotlivé kroky zahrnující simulaci diody strukturním simulátorem DESSIS, analýza a výběr I-V elektrických charakteristik modulem INSPECT, formatování vstupních dat pro HSPICE, optimalizaci modelových parametrů a vyhodnocení modelu. Navržená metoda extrakce modelových parametrů je použita pro identifikaci paraametrů zabudovaného modelu diody.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F03%2F0720" target="_blank" >GA102/03/0720: Model parameters extraction for semiconductor structures</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Socrates Workshop 2004. Intensive Training Programme in Electronic
ISBN
80-214-2819-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
6
Pages from-to
55-60
Publisher name
NEUVEDEN
Place of publication
NEUVEDEN
Event location
Technological Institute of Crete, Chania, Greece
Event date
Sep 14, 2004
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—