Device for statistical characteristics of microplasma noise measurment

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70073" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU70073 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Device for statistical characteristics of microplasma noise measurment

Original language description

Random two-level current impulses may occur in electronic devices containing reverse biased p-n junctions in a certain operating mode. These impulses are usually rectangular, featuring constant amplitude, random pulse width and pulse origin time points.Based on experiment results, a two-state model of stochastic generation-recombination process has been elaborated for the two-level impulse noise allowing to derive some statistical characteristics of this process. A device for measurement of statisticalcharacteristics in a wide range of time is described in this paper. Thus obtained results may be used for p-n junction non-destructive diagnostics and quality assessment.

Czech name

Zařízení pro měření statistických charakteristik mikroplazmatického šumu

Czech description

Náhodné dvojhladinové proudové impulzy můžeme sledovat u elektronických součástek, které využívají závěrně polarizovaný PN přechod. Tyto impulzy jsou obvykle obdélníkové a jsou charakteristické konstantní amplitudou, náhodnou dobou trvání a náhodným okamžikem vzniku. Z experimentálně získaných výsledků statistických charakteristik byl získán model stochatistického generačně-rekombinačního procesu kterým můžeme popsat dvojhladinový impulzní šum. V tomto článku je popisováno zařízení pro měření statistických charakteristik v širokém časovém rozsahu. Získané závěry můžou být použity pro nedestruktivní hodnocení kvality PN přechodu.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2007

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

New trends in physics

ISBN

978-80-7355-078-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

4

Pages from-to

90-93

Publisher name

Z. Novotný, Ing., CSc.

Place of publication

Brno

Event location

Brno

Event date

Nov 15, 2007

Type of event by nationality

EUR - Evropská akce

UT code for WoS article

—