Impact ionization in GaAsP PN junctions

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU72010" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU72010 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Impact ionization in GaAsP PN junctions
Original language description
Currently, the occurrence of microplasma regions in PN junctions is attributed to crystal lattice imperfections. As a rule, these regions feature lower strong-field avalanche ionization breakdown voltages than other homogeneous junction regions. The existence of such regions may lead to local avalanche breakdowns occurring in reverse-biased PN junctions at certain voltages. Macroscopically, these breakdowns are manifested as microplasma noise. Studying the current conductivity bi-stable mechanism thus may be used as an efficient tool to evaluate the PN junction inhomogeneity.
Czech name
Nárazová ionizace v GaAsP PN přechodech
Czech description
Při výskytu lokálních defektů v PN přechodech může docházet ke vzniku lokálních lavinových průrazů způsobených procesem nárazové ionizace.

Project
<a href="/en/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Physical and Material Engineering 2007, International Workshop
ISBN
978-80-7204-537-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
131-134
Publisher name
CERM
Place of publication
Brno
Event location
Velke Losiny
Event date
Sep 4, 2007
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)