Optics of nanoobjects

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU75879" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU75879 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Optics of nanoobjects

Original language description

Conventional optics is diffraction limited to about half of the effective optical wavelength. However the current trend towards miniaturization of optical elements and devices requires methods of observation with high spatial resolutions adapted to the micrometer and submicrometer optical regime. More specifically, the use of Scanning near-field optical microscope (SNOM or NSOM) in various domains is overviewed. Basically an optical tip with a subwavelength aperture at its apex scans over a surface witha spatial resolution, which is not limited by light diffraction. This characteristic makes SNOM a valuable tool to perform various optical or spectroscopic studies on nanoobjects, such as semiconductor quantum dots (QDs), or to address them optically. The paper reviews different methods of far-field and near-field approach to visualize nano-size objects.

Czech name

Optika nanopředmětů

Czech description

Rozlišení v konvenční optice je limitováno difrakcí na polovinu vlnové délky. Současné trendy k miniaturizaci optických součástek vyžadují vyšší rozlišení. Z tohoto důvodu je proveden přehled metod využívajících rastrovací mikroskopy v blízkém poli, protože hrot sondy v těsné blízkosti povrchu není omezen difrakcí, nýbrž jen svými rozměry. Proto je možné použít tyto mikroskopy k měření spektrálních a dalších charakteristik předmětů s nanodetaily, např. kvantovými tečkami.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution</a><br>

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings SPIE -Eighth International Conference on Correlation Optics

ISBN

978-0-8194-7218-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

11

Pages from-to

—

Publisher name

SPIE

Place of publication

Bellinhgham, USA

Event location

Chernivtsi

Event date

Sep 11, 2007

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

000258993700050