Characterization and isolation of monocrystalline silicon solar cell defects at microscale level

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F18%3APU127868" target="_blank" >RIV/00216305:26220/18:PU127868 - isvavai.cz</a>

Result on the web

<a href="http://elektrorevue.cz/cz/clanky/teoreticka-elektrotechnika/0/charakterizace-a-izolace-defektu-monokrystalickych-kremikovych-solarnich-clanku-na-mikroskopicke-urovni/" target="_blank" >http://elektrorevue.cz/cz/clanky/teoreticka-elektrotechnika/0/charakterizace-a-izolace-defektu-monokrystalickych-kremikovych-solarnich-clanku-na-mikroskopicke-urovni/</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Charakterizace a izolace defektů monokrystalických křemíkových solárních článků na mikroskopické úrovni

Original language description

Během výroby monokrystalických solárních článků dochází k nechtěné tvorbě defektů a nedokonalostí na mi- krostrukturální úrovni. I přes malé rozměry mohou mít tyto ne- dokonalosti zásadní vliv na chování celého solárního článku. Lokalizace a následná izolace defektů na mikroskopické úrovni je hlavní náplní této práce. Článek je rozdělen na 2 části. První část popisuje použité detekční a lokalizační metody, které zahr- nují měření voltampérových (VA) charakteristik, skenovací mi- kroskopie v blízkém poli (SNOM), skenovací elektronová mi- kroskopie (SEM) a elektroluminiscence (EL). Druhá část práce se zabývá izolací defektu od okolní struktury odprašováním ma- teriálu za pomocí fokusovaného svazku iontů (FIB). Detekce de- fektů je v prvním kroku realizována změřením VA charakteris- tiky v závěrném směru. K lokalizaci defektní oblasti je využito faktu, že po připojení závěrného napětí se začne generovat zá- ření, jehož vlnová délka je z části i ve viditelném spektru, a tedy je možné ho zachytit i lidským okem. Po hrubém odhadu místa defektní oblasti je použit SNOM v kombinaci s fotonásobičem, který dokáže poskytnout přesnou polohu defektu na mikrosko- pické úrovni. Izolace povrchového defektu je provedena odpra- šováním materiálu fokusovaným svazkem iontů galia uvnitř dual-beam systému (FIB-SEM) Tescan LYRA3. Izolováním po- vrchového defektu je možné zamezit protékání svodového proudu skrz něj a tím zlepšit vlastnosti solárního článku. V pří- padě zkoumaného vzorku došlo ke snížení svodového proudu v závěrném směru přibližně o 2 řády po odizolování defektu.

Czech name

Charakterizace a izolace defektů monokrystalických křemíkových solárních článků na mikroskopické úrovni

Czech description

Během výroby monokrystalických solárních článků dochází k nechtěné tvorbě defektů a nedokonalostí na mi- krostrukturální úrovni. I přes malé rozměry mohou mít tyto ne- dokonalosti zásadní vliv na chování celého solárního článku. Lokalizace a následná izolace defektů na mikroskopické úrovni je hlavní náplní této práce. Článek je rozdělen na 2 části. První část popisuje použité detekční a lokalizační metody, které zahr- nují měření voltampérových (VA) charakteristik, skenovací mi- kroskopie v blízkém poli (SNOM), skenovací elektronová mi- kroskopie (SEM) a elektroluminiscence (EL). Druhá část práce se zabývá izolací defektu od okolní struktury odprašováním ma- teriálu za pomocí fokusovaného svazku iontů (FIB). Detekce de- fektů je v prvním kroku realizována změřením VA charakteris- tiky v závěrném směru. K lokalizaci defektní oblasti je využito faktu, že po připojení závěrného napětí se začne generovat zá- ření, jehož vlnová délka je z části i ve viditelném spektru, a tedy je možné ho zachytit i lidským okem. Po hrubém odhadu místa defektní oblasti je použit SNOM v kombinaci s fotonásobičem, který dokáže poskytnout přesnou polohu defektu na mikrosko- pické úrovni. Izolace povrchového defektu je provedena odpra- šováním materiálu fokusovaným svazkem iontů galia uvnitř dual-beam systému (FIB-SEM) Tescan LYRA3. Izolováním po- vrchového defektu je možné zamezit protékání svodového proudu skrz něj a tím zlepšit vlastnosti solárního článku. V pří- padě zkoumaného vzorku došlo ke snížení svodového proudu v závěrném směru přibližně o 2 řády po odizolování defektu.

Type

J_ost - Miscellaneous article in a specialist periodical

CEP classification

—

OECD FORD branch

10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Project

—

Continuities

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Publication year

2018

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Elektrorevue - Internetový časopis (http://www.elektrorevue.cz)

ISSN

1213-1539

e-ISSN

—

Volume of the periodical

20

Issue of the periodical within the volume

1

Country of publishing house

CZ - CZECH REPUBLIC

Number of pages

5

Pages from-to

14-18

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—