Final Product Specification for Thick Polished Wafers W7584B00 for GaN/AlN Epitaxial Growth
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26821532%3A_____%2F15%3A%230000091" target="_blank" >RIV/26821532:_____/15:#0000091 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Final Product Specification for Thick Polished Wafers W7584B00 for GaN/AlN Epitaxial Growth
Original language description
Specification of the substrate for the growth of GaN / AlN layers and functional sample substrate (for ideal growth nucleation layer) of silicon wafer with 150 mm in diameter, the optimized: thickness due to the deflection of the wafer during depositionand after deposition, variability of wafer thickness, global and local flatness, micro-roughness surface (RMS ), method of treatment of the wafer edge, crystallographic orientation, the dopant and the dopant concentration, the light scattering defects onthe surface.
Czech name
—
Czech description
—
Classification
Type
G<sub>funk</sub> - Functional sample
CEP classification
JJ - Other materials
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/TH01011284" target="_blank" >TH01011284: Novel Wide Bandgap Semiconductor Materials and Devices</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2015
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Data specific for result type
Internal product ID
TH01011284-2015V004 Thick Polished Wafers
Numerical identification
—
Technical parameters
Polished wafer, diameter 150,0 +/- 0,2 mm, thickness 1000 +/- 15 um, surface crystal orientation On <111> 0°? 0.5°, site flatness <1.5 ?m SFQD (SFPD) - Site Size 20 x 20 mm, warp < 20 um, bow < 10 um, flatness < 3.0 ?m GTIR, boron doped, electrical resistivity 5-50 ohmcm, oxygen content 26.0 ? 35.0 ppma per SEMI MF1188. Výsledek využije ON SEMICONDUCTOR CZECH REPUBLIC, s.r.o. (IČ 26821532) ve vlastní výrobě. Odpovědná osoba: Michal Lorenc, ON SEMICONDUCTOR, 1. máje 2230, 7561 61 Rožnov p.R., +420 571 754 507, michal.lorenc@onsemi.com.
Economical parameters
Jednotková cena 20 USD/deska. Aplikační potenciál (vlastní proces MOCVD, 2016): min. 100 desek/měsíc.
Application category by cost
—
Owner IČO
26821532
Owner name
ON SEMICONDUCTOR CZECH REPUBLIC, s.r.o.
Owner country
CZ - CZECH REPUBLIC
Usage type
P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence
Licence fee requirement
Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek
Web page
—