Operating process description for dry thermal silicon oxide formation with target thickness of 25-30 nm on highly phosphorus doped Si substrates.
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F27711170%3A_____%2F12%3A%230000008" target="_blank" >RIV/27711170:_____/12:#0000008 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Procesní návodka pro vytváření suchého termálního oxidu křemíku na fosforem difundovaných Si deskách s cílem tloušťky SiO2 vrstvy 25 až 30 nm
Original language description
Rychlost růstu termického SiO2 je značně závislá na úrovni dotace Si substrátu a markantně se zvyšuje pro silně dopované povrchy. Křemíkové solární články s vyšší kvalitou povrchové pasivace potřebují vrstvu SiO2, ale její tloušťka musí být právě v rozmezí 25 až 30 nm (kompromis mezi vhodnými elektronickými a optickými vlastnostmi). Procesní návodka specifikuje detaily přípravy tenkých pasivačních SiO2 vrstev vysokoteplotní termickou oxidací (teplotní profil procesu, časovou závoslost průtoků jednotlivých plynů) pro struktury solárních článků s mělkým emitorem.
Czech name
Procesní návodka pro vytváření suchého termálního oxidu křemíku na fosforem difundovaných Si deskách s cílem tloušťky SiO2 vrstvy 25 až 30 nm
Czech description
Rychlost růstu termického SiO2 je značně závislá na úrovni dotace Si substrátu a markantně se zvyšuje pro silně dopované povrchy. Křemíkové solární články s vyšší kvalitou povrchové pasivace potřebují vrstvu SiO2, ale její tloušťka musí být právě v rozmezí 25 až 30 nm (kompromis mezi vhodnými elektronickými a optickými vlastnostmi). Procesní návodka specifikuje detaily přípravy tenkých pasivačních SiO2 vrstev vysokoteplotní termickou oxidací (teplotní profil procesu, časovou závoslost průtoků jednotlivých plynů) pro struktury solárních článků s mělkým emitorem.
Classification
Type
N<sub>metC</sub> - Methodology certified by the authorised body
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/TA01020972" target="_blank" >TA01020972: Modification of the particular technology facilities of the batch processes for the yield enhancement of the highly efficient silicon solar cells using the numerical and physical pre- and post-processing models CFD-ACE+ and Flow Simulation.</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2012
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Data specific for result type
Internal product ID
SVPNSOP_SOL_01
Regulation ID
A-2012-11-21-SVPNSOP_SOL_01
Technical parameters
Struktura solárních článků s antireflexní a pasivační dvojvrstvou (SiO2+Si3N4) je výhodná pro Si články s mělkým, respektive selektivním emitorem pro snížení povrchových rekombinačních ztrát. Výsledkem jsou tedy články s vyšším generovaným napětím (oproti standardním strukturám až o 15 mV).
Economical parameters
Vyšší účinnost solárních článků přináší pozitivní ekonomický efekt (vyšší prodejní cena). Znalost "know-how" v dané problematice zároveň posiluje kredit výrobce zařízení (SVCS) u svých zákazníků.Metodika může být rovněž použitelná v polovodičovém průmyslu.
Certification body designation
SVCS Process Innovation s.r.o., Na Potůčkách 163, Valašské Meziříčí 757 01
Date of certification
—
Method of use
C - Výsledek je využíván bez omezení okruhu uživatelů