Spectral interferometry including the effect of transparent thin films to measure distances and displacements

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F47813059%3A19240%2F04%3A%230002008" target="_blank" >RIV/47813059:19240/04:#0002008 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Spectral interferometry including the effect of transparent thin films to measure distances and displacements

Original language description

A spectral-domain interferometric technique is applied for measuring mirror distances and displacements in a dispersive Michelson interferometer when the effect of transparent thin films coated onto the interferometer beam splitter and compensator is known. We employ a low-resolution spectrometer in two experiments with different amounts of dispersion in a Michelson interferometer that includes fused-silica optical sample. Knowing the thickness of the optical sample and the nonlinear phase function of the thin films, the positions of the interferometer mirror are determined precisely by a least-squares fitting of the theoretical spectral interferograms to the recorded ones. We compare the results of the processing that include and do not include the effect of transparent thin films.

Czech name

Měření vzdáleností a posuvů pomocí spektrální interferometrie zahrnující efekt transparentního tenkého filmu

Czech description

Technika interferometrie ve spektrální doméně je použita pro měření vzdáleností a posuvů zrcadel v disperzním Michelsonově interferometru pro případ známého vlivu transparentního tenkého filmu naneseného na dělič paprsku a kompenzátor. Využíváme spektrometr s nízkým rozlišením ve dvou experimentech s různou mírou disperze v Michelsonově interferometru obsahujícím vzorek z taveného křemene. Ze znalosti tloušťky optického vzorku a nelineární fázové funkce tenkého filmu je přesně určována poloha interferenčního zrcadla fitováním zaznamenaných spektrálních interferogramů metodou nejmenších čtverců na teoretické spektrální interferogramy. Srovnáváme výsledky zpracování, jež zahrnují či nezahrnují vliv transparentního tenkého filmu.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BH - Optics, masers and lasers

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Publication year

2004

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

ACTA PHYSICA SLOVACA

ISSN

0323-0465

e-ISSN

—

Volume of the periodical

54

Issue of the periodical within the volume

3

Country of publishing house

SK - SLOVAKIA

Number of pages

8

Pages from-to

—

UT code for WoS article

000222041700002

EID of the result in the Scopus database

—