All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Metric DPMO As Possibility of PCB Assembly Optimation

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F06%3A00000172" target="_blank" >RIV/49777513:23220/06:00000172 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Metric DPMO As Possibility of PCB Assembly Optimation

  • Original language description

    This paper describes today´s situation on the field of failures detection and yield measurement in the electronics manufacturing industry. An overview of the several well-known metrics (Yield and First Pass Yield) is briefly presented including the description of their properties and weaknesses. The main part of this work is focused on new technique DPMO (Defect per Million Opportunities) introduced by IPC. However, there are still some companies using the older metrics despite the fact they are facingthe assembly issues. This work describes how the DPMO can be used in electronics assembly lines either for prediction of the faults or strategic decision making.

  • Czech name

    Metrika DPMO jako možnost optimalizace výroby PCB

  • Czech description

    Tento článek popisuje současnou situaci na poli detekce provozních chyb a meření výtěžnosti osazovacího procesu v oblasti elektrotechnické výroby. Je zde stručný přehled nejčasteji používaných metrik včetně popisu jejich vlastností a nedostatků. Hlavní část toho článku se zaměřuje na metriku DPMO, ktera je definována ve standardu IPC. Tato práce popisuje jak může být tato metrika DPMO využita pri montáži DPS, jak k predikci možných chyb nebo ke strategickému rozhodování.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Others

  • Publication year

    2006

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Proceedings of the 6th international conference Elektro 2006

  • ISBN

    80-8070-544-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    3

  • Pages from-to

    84-86

  • Publisher name

    EDIS-Žilina University publishers

  • Place of publication

    Žilina

  • Event location

    Žilina

  • Event date

    Jan 1, 2006

  • Type of event by nationality

    WRD - Celosvětová akce

  • UT code for WoS article