Degradation of Poly[methyl(phenyl)silylene] cathodoluminescence

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F05%3A00022833" target="_blank" >RIV/68081731:_____/05:00022833 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Degradation of Poly[methyl(phenyl)silylene] cathodoluminescence

Original language description

The study of the properties of poly[methyl(phenyl)silylene] (PMPSi) was based on the measurement of intensity of the cathodoluminescent (CL) emission after passing through the specimen. The major problem of the study is the susceptibility of the materialinvestigated to the degradation by electron beam. PMPSi degradation strongly decreases the CL intensity (to 40% after five minutes from the beginning of the excitation). Therefore, the measurement in the synchronous mode was used to eliminate the influence of the background and of the noise. An interaction of electrons with PMPSi causes the progressive scission of weak Si - Si bonds in the main chain of the material and leads to the formation of silyl radicals. A series of subsequent reactions of the radicals is possible, which complicates the process of degradation. It was found that the degradation process is partly reversible.

Czech name

Degradace katodoluminiscence poly[methyl(phenyl)silylenu]

Czech description

Studium vlastností poly[methyl(phenyl)silylenu] (PMPSi) bylo založeno na měření intenzity katodoluminiscence (CL) po průchodu vzorkem. Hlavním úskalím studia je náchylnost materiálu k degradaci elektronovým svazkem. Degradace PMPSi do značné míry snižujeCL intenzitu (pokles na 40% po pěti minutách excitace). Proto bylo použito měření v synchronním módu, které eliminuje vliv pozadí a šumu. Interakce elektronů s PMPSi způsobuje postupné štěpní slabých Si - Si vazeb základního Si řetězce a vede k tvorbě silylenových radikálů. Možnost celá řady následných reakcí radikálů komplikuje samotný proces degradace. Bylo zjištěno, že degradačního proces je částečně vratný. Částečné obnovení CL intenzity bylo přisouzeno zpětné reakci radikálů, kdy byl materiál ponechán po dobu 20 hodin ve vakuu při teplotě okolí. Porozumění fyzikálních a chemických mechanismů degradace a vratného procesu CL emise PMPSi je zajímavé jak z vědeckého tak aplikačního hlediska.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

2nd European Weathering Symposium on Natural and Artificial Ageing of Polymers

ISBN

3-9808382-9-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

9

Pages from-to

311-319

Publisher name

Gesellschaft für Umweltsimulation GUS

Place of publication

Pfinztal

Event location

Gothenburg

Event date

Jun 16, 2005

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—