Cathodoluminescence as a method for the study of degradation of polysilanes
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00044284" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00044284 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Cathodoluminescence as a method for the study of degradation of polysilanes
Original language description
The paper presents a unique cathodoluminescent (CL) method suitable for studying polysilane properties and the first CL characteristics of the material being investigated. Poly[methyl(phenyl)silylene] (PMPSi) was selected as a typical representative of polysilanes. The PMPSi study was based on the measurement of the intensity of CL emission after passing through the specimen. The major problem of this study is the susceptibility of the material being investigated to the degradation by electron beam. PMPSi degradation strongly decreases the CL intensity. Therefore, detection in the synchronous mode was used to eliminate the influence of the background and of the noise. It was found that the degradation process is partly reversible. A partial recovery ofintensity was attributed to reverse recombination reactions of silyl radicals in a vacuum after 20 h of annealing at room temperature.
Czech name
Katodoluminiscence jako metoda studia degradace polysilanů
Czech description
Práce předsatvuje unikátní katodoluminiscenční (CL) metodu, vhodnou pro studium vlastností polysilanů a rovněž první CL charakteristiky zkoumaného materiálu. Jako typický zástupce polysilanů byl vybrán Poly[methyl(phenyl)silylene] (PMPSi). Studium PMPSibylo založeno na měření intensity CL emise po průchodu vzorkem. Hlavní problém tohoto studia je náchylnost vyšetřovaného materiálu k degradaci elektronovým svazkem. Degradace PMPSi silně snižuje Cl intensitu. Z tohoto důvodu byla použita detekce v synchronním módu, která omezila vliv pozadí a šumu. Bylo zjištěno, že degradační proces je částečně vratný. Částečné obnovení intensity, po 20 hodinách temperování ve vakuu při pokojové teplotě, bylo přisouzeno reakcím zpětné rekombinace silyl radikálů.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/IAA100100622" target="_blank" >IAA100100622: CONJUGATED SILICON ? BASED POLYMER RESISTS FOR NANOTECHNOLOGIES</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Nuclear Instruments and Methods in Physical Research. B
ISSN
0168-583X
e-ISSN
—
Volume of the periodical
252
Issue of the periodical within the volume
2
Country of publishing house
NL - THE KINGDOM OF THE NETHERLANDS
Number of pages
5
Pages from-to
303-307
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—