High Resolution Imaging by Means of Backscattered Electrons in the Scanning Electron Microscope
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00092625" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00092625 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
High Resolution Imaging by Means of Backscattered Electrons in the Scanning Electron Microscope
Original language description
Article deals with the high resolution imaging by means of backscattered electrons (BSE) in the scanning electron microscope. Various systems for the detection of backscattered electrons are outlined. Special attention is paid to the scintillation BSE detector with YAG single crystal scintillator. Finally, high resolution images of various samples taken by this detector are presented.
Czech name
Zobrazování s vysokým rozlišením pomocí zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu
Czech description
Článek se zabývá vysokorozlišovacím zobrazováním pomocí zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Jsou nastíněny různé detekční systémy zpětně odražených elektronů. Zvláštní pozornost je věnována scintilačnímu BSE detektoru s monokrystalickým scintilátorem YAG. Na závěr jsou prezentovány obrázky různých vzorků o vysokém rozlišení pořízené tímto detektorem.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
5th International Conference on Materials Structure and Micromechanics of Fracture. Abstract booklet
ISBN
978-80-214-3434-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
1
Pages from-to
165
Publisher name
VUTIUM
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Jun 27, 2007
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
—