All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Hardness of nanocomposite a-C:Si films deposited by magnetron sputtering

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F07%3A00096427" target="_blank" >RIV/68378271:_____/07:00096427 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Hardness of nanocomposite a-C:Si films deposited by magnetron sputtering

  • Original language description

    Hydrogen-free a-C:Si films with Si concentration from 3 to 70 at.% were prepared by magnetron co-sputtering of pure graphite and silicon targets.Mechanical properties (hardness, intrinsic stress), film composition (EPMA and XPS) and film structure (electron diffraction, Raman spectra) were investigated in dependence on Si concentration, substrate bias and deposition temperature. The film hardness was maximal for -45 at.% of Si and deposition temperatures 600 and 800 °C. Reflection electron diffraction indicated an amorphous structure of prepared films.Raman spectra showed that the films in the range of 35 - 70 at.% of Si always contain three bands corresponding to the Si, SiC and C clusters

  • Czech name

    Tvrdost nanokompozitních vrstev a-C:Si deponovaných magnetronovým naprašováním

  • Czech description

    Vodík neobsahující vrstvy a-C:Si s koncentrací Si od 3 do 70 at.% byly připravovány magnetronovým ko-sputteringem z targetů z čistého grafitu a křemíku. Mechanické vlastnosti (tvrdost,vnitřní pnutí),složení vrstev (EPMA a XPS) a struktura (elektronová difrakce a ramanova spektroskopie) byly zkoumány v závislosti na koncentraci Si, předpětí na substrátu a depoziční teplotě. Maximum tvrdosti bylo dosaženo při koncentraci Si 45 at.% a při depozičních teplotách 600 a 800 °C. Reflexní elektronová difrakce indikovala amorfní strukturu připravovaných vrstev. Ramanovy spektra ukazují na existenci 3 pásů odpovídajících klastrům Si, SiC a C pro koncentrace Si z intervalu 35 - 70 at.%

Classification

  • Type

    J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    BM - Solid-state physics and magnetism

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2007

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Diamond and Related Materials

  • ISSN

    0925-9635

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    16

  • Issue of the periodical within the volume

    -

  • Country of publishing house

    CH - SWITZERLAND

  • Number of pages

    7

  • Pages from-to

    167-173

  • UT code for WoS article

  • EID of the result in the Scopus database