Contrast of carbon in low-voltage electron microscopy - Monte-Carlo simulation

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F08%3A02150620" target="_blank" >RIV/68407700:21220/08:02150620 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Contrast of carbon in low-voltage electron microscopy - Monte-Carlo simulation

Original language description

Low-voltage transmission electron microscopy (LVEM) using very low accelerating voltage 5keV for observation of low density materials (unstained biological samples and organic thin films) has the advantage of high contrast due to the high scattering efficiency of atoms at low electron energy. The disadvantage of LVEM is the very low transmittable sample thickness. To quantify the transmittance of the samples and the contrast formation, we simulated the interaction of an electron beam with a thin carbonfilm by our Monte-Carlo code. As the result of our calculations, we obtained the spatial distribution of the transmitted electrons in conditions like those in LVEM, and we were able to find the dependence of the image contrast on the thickness and density of the samples and on the size of the microscope objective aperture.

Czech name

Kontrast z karbonu při nízkém napětí elektronová mikroskopie - Monte-Carlo simulace

Czech description

Nízké napětí přenos elektron mikroskopie (LVEM) používání velmi nízký zrychlující napětí L 5keV pro pozorování nízký hustoty materiály (nespoutané biologické vzorky a organických tenkých vrstev) mají výhodu vysokého kontrastu kvůli vysokému rozptylováníefektivita atomů v nízký elektronu energie. Nevýhoda LVEM je velmi nízký prostupnost vzorek tloušťky. Pro určit kvantitativně činitele prostupu vzorků a kontrastu formace, my jsme předstírali vzájemné působení elektronového paprsku s tenkým průklepem filmovat naším Monte-Carlo kódem. Následkem toho našich kalkulací, my jsme získali prostorové uspořádání přenášených elektronů v dobrém stavu jako ti v LVEM, a my jsme byli schopen nalézt závislost obrazu kontrast na tloušťku a hustotu vzorků a na velikostmikroskopu cíl otvor.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JD - Use of computers, robotics and its application

OECD FORD branch

—

Project

Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Journal of Physics

ISBN

—

ISSN

1742-6588

e-ISSN

—

Number of pages

1

Pages from-to

—

Publisher name

Institut of Physics

Place of publication

London

Event location

London

Event date

Sep 12, 2007

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

000263476400062