Traceability of sub-nm length measurements

Poskytovatel
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Program
Šestý rámcový program Evropského společenství pro výzkum, technický rozvoj a demonstrační činnosti
Veřejná soutěž
FP6-2005-Energy-4
Hlavní účastníci
Český metrologický institut
Druh soutěže
RP - Spolufinancování programu EK
Číslo smlouvy
MSMT-45248/2013-7

Název projektu anglicky
Traceability of sub-nm length measurements
Anotace anglicky
The JRP SIB08 subnano will meet the growing requirement for the broader dissemination of the SI unit of length at the sub-nanometre level. This will be achieved with the development of state of the art techniques for sub nanometre length metrology by improving and cross verifying the metrology of x-ray interferometers, capacitive sensors and Fabry-Perot interferometers. This will lead to the investigation of a potential portable transfer standard for verifying the performance of sub-nanometre displacement measuring instrumentation outside of the purely NMI environment.

Kategorie VaV
AP - Aplikovaný výzkum
CEP - hlavní obor
BH - Optika, masery a lasery
CEP - vedlejší obor
—
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
Tento projekt rozšířil měření délky v sub-nanometrové oblasti pomocí vývoje interferometrů. Dále vyvinuté modelování interferometrů umožňuje zavádět korekce a určovat nejistoty měření pro metrologickou návaznost takovýchto měření.

Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP16-MSM-7A-U/01:1
Datum dodání záznamu
11. 10. 2017

Podobné projekty(10)