Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”
8B20002

High throughput metrology for nanowire energy harvesting devices

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy

  • Program

    Evropský metrologický program pro inovace a výzkum

  • Veřejná soutěž

  • Hlavní účastníci

    Český metrologický institut

  • Druh soutěže

    M2 - Mezinárodní spolupráce

  • Číslo smlouvy

    8B20002

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    High throughput metrology for nanowire energy harvesting devices

  • Anotace anglicky

    The overall goal of this project is the traceable measurement and characterisation of energy harvesting devices based on vertical NW. The specific objectives are: 1. To develop traceable measurement methods for high throughput nanodimensional characterisation of NW energy harvesters (> 108 NWs/cm2) including 3D form (cylindrical, prismatic, pyramidal) and sidewall roughness. 2. To develop traceable measurement methods for high throughput nanoelectrical characterisation of semiconductor NW solar cells using conductive Atomic Force Microscopy (AFM) for current-voltage characteristic in the current range 100 fA to 1 mA, Scanning Microwave Microscopy (SMM) for doping concentration variation (between 1015 and 1020 atoms/cm3 with an accuracy better than 10 %), and Micro-Electro-Mechanical Systems - Scanning Probe Microscopy (MEMS-SPM) for lateral resolution (< 50 nm). 3. To develop and validate traceable measurement methods and models for high throughput nanomechanical characterisation of NW devices, and electromechanical energy harvesters taking into account local bending and compression of NWs including the development of a traceable MEMS-SPM (< 10 pm depth resolution) for fast simultaneous nanomechanical and electrical measurement of semiconductor and polymer piezoelectric NWs.

Vědní obory

  • Kategorie VaV

    ZV - Základní výzkum

  • OECD FORD - hlavní obor

    10700 - Other natural sciences

  • OECD FORD - vedlejší obor

    10700 - Other natural sciences

  • OECD FORD - další vedlejší obor

    10700 - Other natural sciences

  • CEP - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)

Hodnocení dokončeného projektu

  • Hodnocení poskytovatelem

    V - Vynikající výsledky projektu (s mezinárodním významem atd.)

  • Zhodnocení výsledků projektu

    Hodnocení výsledků řešení MŠMT neprovádí, neboť podmínkou podpory je, že uchazeč byl vybrán mezinárodním poskytovatelem v souladu s pravidly příslušného programu.

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 9. 2020

  • Ukončení řešení

    31. 8. 2023

  • Poslední stav řešení

    U - Ukončený projekt

  • Poslední uvolnění podpory

    17. 2. 2023

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP24-MSM-8B-U

  • Datum dodání záznamu

    1. 7. 2024

Finance

  • Celkové uznané náklady

    1 191 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    1 191 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    0 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč