Vše
Vše

Co hledáte?

Vše
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Rtg difraktometrie s vysokým rozlišením náhodných vrstevnatých systémů

Cíle projektu

Rtg rozptyl na nanostrukturách s užitím širokého svazku měří ansámblově středovanou intenzitu rozptylu, tímto středováním se ztrácí informace o korelaci strukurních parametrů, na druhé straně rozptyl velmi úzkého koherentního svazku umožňuje získat kompletní informaci o struktuře jediného nanobjektu, která je však nepoužitelná pro charakterizaci vzorku s velmi mnoha nanoobjekty. Cílem projektu je vypracovat metodu rtg rozptylu a vyhodnocení experimentálních dat, která zachová množství informace z koherentní difrakce jednoho objektu a přitom zlepší statistickou relevanci výsledků pro velký ansámbl objektů. Metoda bude založena na rigorózní teorii optické koherence a bude zahrnovat i případ velmi krátkých časově nekoheretních pulzů generovaných rtg lasery na volných elektronech. Metoda bude použita pro studium náhodně vrstevnatých systémů, a to vrstevných chyb v epitaxních vrstvách GaN a v polovodičových nanodrátech. Výsledkem bude stanovení sekvence defektů v jednotlivých nanoobjektech a jejich korelace ve velkém ansámblu objektů.

Klíčová slova

x-ray diffractometrylayered systemsx-ray coherencenanostructuresepitaxial layers

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Grantová agentura České republiky

  • Program

    Standardní projekty

  • Veřejná soutěž

    Standardní projekty 18 (SGA0201400001)

  • Hlavní účastníci

    Univerzita Karlova / Matematicko-fyzikální fakulta

  • Druh soutěže

    VS - Veřejná soutěž

  • Číslo smlouvy

    14-08124S

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    High-resolution x-ray diffraction from random layered systems

  • Anotace anglicky

    X-ray scattering from nanostructures using a broad beam detects the ensemble-averaged scattered intensity; ensemble averaging smears out information on correlation of structure parameters; on the other hand the scattering of a very narrow coherent beam brings complete information on a single nanoobject, which is useless for characterization of samples with many nanoobjects. The goal of the project is to develop a method of x-ray scattering and data treatment, which keeps the information depth of the coherent diffraction from a single object and improves the statistical relevance for a large ensemble of objects. The method will be based on the rigorous theory of optical coherence and it will include also the case of very short, time-incoherent pulses produced by x-ray free electron lasers. The method will be applied for the study of random layered systems, namely stacking faults in epitaxial layers GaN and in semiconductor nanowires. We determine the sequence of the defects in individual nanoobjects and their correlations in a large ensemble of objects.

Vědní obory

  • Kategorie VaV

    ZV - Základní výzkum

  • CEP - hlavní obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • CEP - vedlejší obor

  • CEP - další vedlejší obor

  • OECD FORD - odpovídající obory
    (dle převodníku)

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Hodnocení dokončeného projektu

  • Hodnocení poskytovatelem

    V - Vynikající výsledky projektu (s mezinárodním významem atd.)

  • Zhodnocení výsledků projektu

    Významné originální výsledky byly dosaženy při vývoji obené teorie rentgenovské difrakce z vrstevnatých systémů a byly aplikovány při studiu planárních defektů v GaN, nanovláknech GaAs a v topologických nevodičích. Výsledky byly publikovány v 13 článcích v předních mezinárodních časopisech s vysokým impakt faktorem a významně překračují dosavadní stav poznání v této oblasti.

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 1. 2014

  • Ukončení řešení

    31. 12. 2016

  • Poslední stav řešení

    U - Ukončený projekt

  • Poslední uvolnění podpory

    12. 4. 2016

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP17-GA0-GA-U/03:1

  • Datum dodání záznamu

    28. 6. 2017

Finance

  • Celkové uznané náklady

    4 758 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    4 758 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    0 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč

Uznané náklady

4 758 tis. Kč

Statní podpora

4 758 tis. Kč

0%


Poskytovatel

Grantová agentura České republiky

CEP

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

Doba řešení

01. 01. 2014 - 31. 12. 2016