Dvoudimenzionální mapování prvkových koncentrací metodou PIXE

Poskytovatel

Grantová agentura České republiky

Program

Standardní projekty

Veřejná soutěž

—

Hlavní účastníci

České vysoké učení technické v Praze / Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská

Druh soutěže

—

Číslo smlouvy

—

Název projektu anglicky

Two-dimensional mapping of element concentratios by PIXE analysis

Anotace anglicky

The objective of the project is to upgrade the existing facility to a two-dimensional mapping PIXE submiliprobe. Analysis of trace elements by PIXE is salready conducted in the aplicant's laboratory. Various samples are analyzed: fine aerosol particles on a filter, thick or thin layers of materials, paste-like or liquid samples. Generally, the minimum amount of analyzed material required by PIXE is very small, even a few micrograms. However, the analyzed surface of the sample is presently several mm indiameter. The objective is a major improvement - upgrade to a submilimeter probe. That requires: i) a precise target positioning and beam spot localization with accuracy better than a tenth of a milimeter, ii) improvement of monitoring of the beam stability and transport along the vacuum line, iii) proton charge measurement systém in the given experimental geometry. There is a variety of suitable applications fot the proposed submilimeter probe including: monitoring of structural changes of tissues in m

Kategorie VaV

—

CEP - hlavní obor

BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

CEP - vedlejší obor

JG - Hutnictví, kovové materiály

CEP - další vedlejší obor

DB - Geologie a mineralogie

OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)

10304 - Nuclear physics<br>10504 - Mineralogy<br>10505 - Geology<br>10506 - Paleontology<br>20501 - Materials engineering

Hodnocení poskytovatelem

U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

Zhodnocení výsledků projektu

Bylo vybudováno funkční zařízení dovolující provádět dvoudimenzionální analýzu prvkových koncentrací na povrchu vzorku se submilimetrovým rozlišením s využitím metody PIXE. Byl úspěšně zahájen vývoj metodiky analýz i vlastní analýzy. Předpokládané srovná

Zahájení řešení

1. 1. 1998

Ukončení řešení

1. 1. 1999

Poslední stav řešení

U - Ukončený projekt

Poslední uvolnění podpory

—

Důvěrnost údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Systémové označení dodávky dat

CEP/2000/GA0/GA00GA/U/6:2

Datum dodání záznamu

—

Celkové uznané náklady

1 115 tis. Kč

Výše podpory ze státního rozpočtu

829 tis. Kč

Ostatní veřejné zdroje financování

0 tis. Kč

Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

0 tis. Kč