Měření profilu provrchů pomocí bezkontaktní mikroskopie atomárních sil
Cíle projektu
Měření morfologie a struktury povrchů mikroskopem atomárních sil (AFM - atomic force microscopy) je založeno na detekci meziatomárních sil mezi ostrým hrotem umístěným na konci pružného raménka a lokálními strukturami studovaného povrchu. Zatímco v kontaktním módu se hrot během rastrování neustále dotýká povrchu a profil povrchu je zaznamenáván ohyby raménka, v bezkontaktním módu je kmitající raménko udržováno v jistých vzdálenostech od povrchu (1-10 nm) a informace o profilu povrchu je získávána ze změn charakteristik kmitání raménka (např. amplitudy a efektivní vlastní frekvence). Výhoda bezkontaktního módu spočívá ve schopnosti měřit měkké vzorky, jako jsou biologické preparáty, rozhraní mezi kapalinou a plynem, maziva na površích a jiné, bez významného poškozování nebo změny sledovaného povrchu. Plánované experimenty budou prováděny na nekomerčním zařízení UHV AFM za účelem in situ studia povrchů ultratenkých vrstev připravených v UHV zařízení metodou atomárně svazkového napařování za
Klíčová slova
Veřejná podpora
Poskytovatel
Grantová agentura České republiky
Program
Postdoktorandské granty
Veřejná soutěž
Standardní projekty 7 (SGA02004GA1PD)
Hlavní účastníci
—
Druh soutěže
VS - Veřejná soutěž
Číslo smlouvy
—
Alternativní jazyk
Název projektu anglicky
Measurement of surface profiles by noncontact atomic force microscopy
Anotace anglicky
The measurement of surface morphology and structure by atomic force microscopy (AFM) is based on detection of interatomic forces between a sharp tip attached to an elastic cantilever and local areas of the studied surface. While in the contact mode the tip is in permanent contact with the surface during scanning and surface profile is recorded via cantilever deflections, in the noncontact mode vibrating cantilever is kept in certain distances from the surface (1310 nm) and information about the surfaceprofile is obtained from the changes of characteristics of cantilever vibrations (e. g. amplitude and effective resonance frequency). The advantage of the noncontact mode consists in capability to measure soft samples such as biological samples, liquid 3air interfaces, lubricants on surfaces and others without significant damages or changes of the observed surface. Planned experimental measurements will be performed by a home-built UHV AFM device for in-situ study of surfaces of ultrathin films prepared
Vědní obory
Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
CEP - hlavní obor
BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače
CEP - vedlejší obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory
(dle převodníku)10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
10304 - Nuclear physics
Hodnocení dokončeného projektu
Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
V rámci řešení grantu byla splněna tato témata deklarovaná v grantové přihlášce: 1) Funkčnost zařízení byla zkoušena v atmosféře a v podmínkách UHV. Na základě výsledků těchto měření byl navržen a vyroben nový generátor pulzů pro ovládání zrcadel sloužíc
Termíny řešení
Zahájení řešení
1. 1. 2004
Ukončení řešení
1. 1. 2006
Poslední stav řešení
U - Ukončený projekt
Poslední uvolnění podpory
—
Dodání dat do CEP
Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP07-GA0-GP-U/03:2
Datum dodání záznamu
16. 10. 2007
Finance
Celkové uznané náklady
717 tis. Kč
Výše podpory ze státního rozpočtu
717 tis. Kč
Ostatní veřejné zdroje financování
0 tis. Kč
Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.
0 tis. Kč
Základní informace
Uznané náklady
717 tis. Kč
Statní podpora
717 tis. Kč
100%
Poskytovatel
Grantová agentura České republiky
CEP
BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače
Doba řešení
01. 01. 2004 - 01. 01. 2006