Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Rastrovací prozařovací elektronová mikroskopie s velmi pomalými elektrony

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Akademie věd České republiky

  • Program

    Granty výrazně badatelského charakteru zaměřené na oblast výzkumu rozvíjeného v současné době zejména v AV ČR

  • Veřejná soutěž

    Výzkumné granty 9 (SAV02009-A)

  • Hlavní účastníci

  • Druh soutěže

    VS - Veřejná soutěž

  • Číslo smlouvy

    IAA100650902

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    Scanning transmission electron microscopy with very slow electrons

  • Anotace anglicky

    Scanning transmission electron microscope, usually operating at primary beam energies above tens of keV, is widely used for studiing of thin samples. Mean free paths of elastic (EMFP) and inelastic (IMFP) scattering of electrons increase as the primary beam energy is increased, therefore penetration of electrons through a sample of a given thickness is question of using suitably high primary energy, which leads to radiation damage. If the primary energy is lowered below 100 eV, however, IMFP grows againbut the same does not hold for EMFP. The aim of this project is to study possibilities of the scanning transmission electron microscopy with very low energy, where the cathode lens decelerates the electron beam just in front of the specimen surface, securing resolution of a few nm even at the landing energy below a few eV. Influence of the thin film sample on transmission of the primary beam and spectroscopy of transmitted electrons will be examined.

Vědní obory

  • Kategorie VaV

    ZV - Základní výzkum

  • CEP - hlavní obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • CEP - vedlejší obor

    BE - Teoretická fyzika

  • CEP - další vedlejší obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)

    10301 - Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)<br>10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)<br>10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Hodnocení dokončeného projektu

  • Hodnocení poskytovatelem

    U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

  • Zhodnocení výsledků projektu

    Byla zobrazena struktura grafénu pomocí prošlých elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu s velmi pomalými elektrony a vysokým prostorovým rozlišením. Byla naměřena maximální propustnost grafénu pro energii 5 eV.

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 1. 2009

  • Ukončení řešení

    31. 12. 2011

  • Poslední stav řešení

    U - Ukončený projekt

  • Poslední uvolnění podpory

    18. 3. 2011

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP12-AV0-IA-U/02:2

  • Datum dodání záznamu

    28. 6. 2013

Finance

  • Celkové uznané náklady

    2 467 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    2 467 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    0 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč