SPONA - Zvýšení spolehlivosti nanoscale obvodů

Poskytovatel
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Program
COST CZ
Veřejná soutěž
COST CZ 3 (SMSM2013LD3)
Hlavní účastníci
Technická univerzita v Liberci / Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií
Druh soutěže
VS - Veřejná soutěž
Číslo smlouvy
MSMT-9339/2013-311

Název projektu anglicky
Improvement in Reliability of Nano-scale circuits
Anotace anglicky
The project aim is a developement of a techniques and methodology for verification of the reliability of integrated circuits produced by nowadays technologies, usually described as nano-scale IC. These technologies (advanced CMOS processes, CNT - CarbonNano-Tube, graphene, Si-nanowires, etc.) requires a different approach in terms of reliability. It is necessary to take into account new fault models and new test techniques, to implement new approaches that enable continuous evaluation of the critical parameters of the integrated circuits. Aim of the project is to analyze the fault types and create new tools for the preparation of test data which can cover other types of failures. These objectives are focused both on a standard ASIC circuits and on circuits which allow the change of the functionality using partial or full reconfiguration (FPGA circuits) - part of this solution is the methodology of implementation of desired functions to these circuits and also implementation in multiprocessor systems.

Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
CEP - hlavní obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP - vedlejší obor
JC - Počítačový hardware a software
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
20201 - Electrical and electronic engineering<br>20206 - Computer hardware and architecture

Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
Projekt LD13019 cílil na zvýšení spolehlivosti moderních nanostruktur a mikroelektronických obvodů pomocí unikátních metod detekce, měření, zpracování i implementace včetně využití flexibilní rekonfigurace a podpory zabudovaných operačních systémů. Zaměřili jsme se rovněž na rozšíření kontaktů a spolupráce s partnery nejen v projektu COST Median, zástupci výrobců a dalšími vědeckými pracovišti ohledně vlastností moderních mikroelektronických obvodů. Výsledky byly publikovány v oblasti všech hlavních cílů, jak ve formě publikací na prestižních konferencích, tak ve formě dostupných aplikací. Výsledkem jsou pracovní pobyty v zahraničí, společné publikace či úspěšně obhájených disertačních prací v přímé souvislosti s tímto projektem. V rámci řešení COST projektu jsme pořádali také velmi dobře hodnocenou ISTS (International Summer Training School) v červenci 2015 v Praze. Navázaná spolupráce v oblasti výzkumu bude pokračovat i v dalších letech.

Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP16-MSM-LD-U/02:1
Datum dodání záznamu
11. 10. 2017

Podobné projekty(10)