Forensic Science Scanning Electron Microscopy and News in this Field
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00007064%3AK01__%2F09%3A%230000325" target="_blank" >RIV/00007064:K01__/09:#0000325 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Forensic Science Scanning Electron Microscopy and News in this Field
Popis výsledku v původním jazyce
Scanning electron microscopy (SEM) can be labelled as an analytical method in the field of forensic science. It has developed into one of basic screenings that is employed for primary information about unknown samples and materials. Majority of caseworkin forensic science deals with determination, description and comparisons of practically any phases, which can come into contact with persons or objects. Generally, both materials of natural origin and any materials produced by human activities can be encountered (meant in wide available interpretation). In practise, any items can be delivered to a forensic lab (ranging from a fragment of ancient vessels, data records, documents, to materials for high tech semiconductors).
Název v anglickém jazyce
Forensic Science Scanning Electron Microscopy and News in this Field
Popis výsledku anglicky
Scanning electron microscopy (SEM) can be labelled as an analytical method in the field of forensic science. It has developed into one of basic screenings that is employed for primary information about unknown samples and materials. Majority of caseworkin forensic science deals with determination, description and comparisons of practically any phases, which can come into contact with persons or objects. Generally, both materials of natural origin and any materials produced by human activities can be encountered (meant in wide available interpretation). In practise, any items can be delivered to a forensic lab (ranging from a fragment of ancient vessels, data records, documents, to materials for high tech semiconductors).
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
CB - Analytická chemie, separace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
e-ISSN
—
Svazek periodika
Volume 15
Číslo periodika v rámci svazku
Supp S2
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—