Potential of Application Focused Ion Beam in Forensic Science Area

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00007064%3AK01__%2F17%3AN0000067" target="_blank" >RIV/00007064:K01__/17:N0000067 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927617001969" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S1431927617001969</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927617001969" target="_blank" >10.1017/S1431927617001969</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Potential of Application Focused Ion Beam in Forensic Science Area

Popis výsledku v původním jazyce

Electron microscopy techniques are widely used in forensic analysis, both for the initial screening and the final expert assessment. There is a wide variety of samples that we analyse at forensic laboratories and experts there may encounter virtually any material, either made by humans or created by nature, which is related to the case under investigation (from fragments of prehistoric vessels, through data and documents to high-tech semi-permeable semiconductors). Striving to extend the analytical tools, we have recently tested the possibility of using the focused ion beam. The respective devices have become conveniently small and the current dual SEM / FIB systems have become standard laboratory equipment.

Název v anglickém jazyce

Potential of Application Focused Ion Beam in Forensic Science Area

Popis výsledku anglicky

Electron microscopy techniques are widely used in forensic analysis, both for the initial screening and the final expert assessment. There is a wide variety of samples that we analyse at forensic laboratories and experts there may encounter virtually any material, either made by humans or created by nature, which is related to the case under investigation (from fragments of prehistoric vessels, through data and documents to high-tech semi-permeable semiconductors). Striving to extend the analytical tools, we have recently tested the possibility of using the focused ion beam. The respective devices have become conveniently small and the current dual SEM / FIB systems have become standard laboratory equipment.

Druh

J_ost - Ostatní články v recenzovaných periodicích

CEP obor

—

OECD FORD obor

10700 - Other natural sciences

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2017

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

23

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

256-257

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—