Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Near-?eld scanning optical microscopy studies of thin ?lm surfaces and interfaces

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F08%3A%230000297" target="_blank" >RIV/00177016:_____/08:#0000297 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Near-?eld scanning optical microscopy studies of thin ?lm surfaces and interfaces

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this article, the results of the modeling of topography related artifacts appearing in near-?eld scanning optical microscopy measurements are presented. The results obtained for near-?eld scanning optical microscope operation in re?ection mode with off-axis far ?eld detector position are compared with experimental results. It is shown that the chosen numerical method ? Finite Difference in Time Domain method (FDTD) ? can be used for ef?cient modeling of main topography related artifact. It is also seen that the far ?eld detector position can have large in?uence on the resulting re?ection mode optical images.

  • Název v anglickém jazyce

    Near-?eld scanning optical microscopy studies of thin ?lm surfaces and interfaces

  • Popis výsledku anglicky

    In this article, the results of the modeling of topography related artifacts appearing in near-?eld scanning optical microscopy measurements are presented. The results obtained for near-?eld scanning optical microscope operation in re?ection mode with off-axis far ?eld detector position are compared with experimental results. It is shown that the chosen numerical method ? Finite Difference in Time Domain method (FDTD) ? can be used for ef?cient modeling of main topography related artifact. It is also seen that the far ?eld detector position can have large in?uence on the resulting re?ection mode optical images.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Surface Science

  • ISSN

    0169-4332

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    254

  • Číslo periodika v rámci svazku

    12/2007

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus