Studium povrchů tenkých vrstev a rozhraní pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081723%3A_____%2F08%3A00307535" target="_blank" >RIV/68081723:_____/08:00307535 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216224:14310/08:00024781
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Near-field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces
Popis výsledku v původním jazyce
In this article, the results of the modeling of topography related artifacts appearing in near-field scanning optical microscopy measurements are presented. The results obtained for near-field scanning optical microscope are compared with experimental results. It is shown that the chosen numerical method - Finite Difference in Time Domain method(FDTD)-can be used for efficient modeling of main topography related artifact.
Název v anglickém jazyce
Near-field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces
Popis výsledku anglicky
In this article, the results of the modeling of topography related artifacts appearing in near-field scanning optical microscopy measurements are presented. The results obtained for near-field scanning optical microscope are compared with experimental results. It is shown that the chosen numerical method - Finite Difference in Time Domain method(FDTD)-can be used for efficient modeling of main topography related artifact.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech
OECD FORD obor
—

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)