Measurement System for DC Characterization of Low Resistance Standards

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F09%3A%230000250" target="_blank" >RIV/00177016:_____/09:#0000250 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Measurement System for DC Characterization of Low Resistance Standards

Popis výsledku v původním jazyce

This paper describes a measurement system for DC characterization of low resistance standards (below 0,1 ?) in wide current level (from 1 A up to 100 A). DC characterization of such standard includes direct resistance measurements, temperature coefficient measurements and current level dependence (power coefficient) measurement with uncertainties at ppm level.

Název v anglickém jazyce

Measurement System for DC Characterization of Low Resistance Standards

Popis výsledku anglicky

This paper describes a measurement system for DC characterization of low resistance standards (below 0,1 ?) in wide current level (from 1 A up to 100 A). DC characterization of such standard includes direct resistance measurements, temperature coefficient measurements and current level dependence (power coefficient) measurement with uncertainties at ppm level.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JB - Senzory, čidla, měření a regulace

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

R - Projekt Ramcoveho programu EK

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of NCSL International Workshop and Symposium

ISBN

1-58464-063-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

—

Název nakladatele

NCSL International

Místo vydání

San Antonio, Texas, USA

Místo konání akce

San Antonio, Texas, USA

Datum konání akce

1. 1. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—