Measurement System for High Current Shunts DC Characterization at CMI
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F10%3A%230000244" target="_blank" >RIV/00177016:_____/10:#0000244 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Measurement System for High Current Shunts DC Characterization at CMI
Popis výsledku v původním jazyce
This paper describes a measurement system for DC characterization of high current shunts (below 0,1 Ohm) in wide current level (from 5 A up to 100 A) built at CMI. DC characterization of such shunt includes direct resistance measurements, temperature coefficient and power coefficient measurement with uncertainties at ppm level.
Název v anglickém jazyce
Measurement System for High Current Shunts DC Characterization at CMI
Popis výsledku anglicky
This paper describes a measurement system for DC characterization of high current shunts (below 0,1 Ohm) in wide current level (from 5 A up to 100 A) built at CMI. DC characterization of such shunt includes direct resistance measurements, temperature coefficient and power coefficient measurement with uncertainties at ppm level.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
R - Projekt Ramcoveho programu EK
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Conference on Precision Electromagnetic Measurements Digest
ISBN
978-1-4244-6794-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE, 345 E 47th St., New York, NY 10017 USA
Místo vydání
Seoul, South Korea
Místo konání akce
Seoul, South Korea
Datum konání akce
1. 1. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—