Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Measurement System for High Current Shunts DC Characterization at CMI

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F10%3A%230000244" target="_blank" >RIV/00177016:_____/10:#0000244 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Measurement System for High Current Shunts DC Characterization at CMI

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper describes a measurement system for DC characterization of high current shunts (below 0,1 Ohm) in wide current level (from 5 A up to 100 A) built at CMI. DC characterization of such shunt includes direct resistance measurements, temperature coefficient and power coefficient measurement with uncertainties at ppm level.

  • Název v anglickém jazyce

    Measurement System for High Current Shunts DC Characterization at CMI

  • Popis výsledku anglicky

    This paper describes a measurement system for DC characterization of high current shunts (below 0,1 Ohm) in wide current level (from 5 A up to 100 A) built at CMI. DC characterization of such shunt includes direct resistance measurements, temperature coefficient and power coefficient measurement with uncertainties at ppm level.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JB - Senzory, čidla, měření a regulace

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    R - Projekt Ramcoveho programu EK

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2010

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Conference on Precision Electromagnetic Measurements Digest

  • ISBN

    978-1-4244-6794-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE, 345 E 47th St., New York, NY 10017 USA

  • Místo vydání

    Seoul, South Korea

  • Místo konání akce

    Seoul, South Korea

  • Datum konání akce

    1. 1. 2010

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku