Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Methods for determining and processing 3D errors and uncertainties for AFM data analysis

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F11%3A%230000303" target="_blank" >RIV/00177016:_____/11:#0000303 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/00177016:_____/11:#0000379 RIV/00216224:14310/11:00049534

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Methods for determining and processing 3D errors and uncertainties for AFM data analysis

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper describes the processing of three-dimensional (3D) scanning probe microscopy (SPM) data. It is shown that 3D volumetric calibration error and uncertainty data can be acquired for both metrological atomic force microscope systems and commercialSPMs. These data can be used within nearly all the standard SPM data processing algorithms to determine local values of uncertainty of the scanning system. If the error function of the scanning system is determined for the whole measurement volume of anSPM, it can be converted to yield local dimensional uncertainty values that can in turn be used for evaluation of uncertainties related to the acquired data and for further data processing applications (e.g. area, ACF, roughness) within direct or statistical measurements. These have been implemented in the software package Gwyddion.

  • Název v anglickém jazyce

    Methods for determining and processing 3D errors and uncertainties for AFM data analysis

  • Popis výsledku anglicky

    This paper describes the processing of three-dimensional (3D) scanning probe microscopy (SPM) data. It is shown that 3D volumetric calibration error and uncertainty data can be acquired for both metrological atomic force microscope systems and commercialSPMs. These data can be used within nearly all the standard SPM data processing algorithms to determine local values of uncertainty of the scanning system. If the error function of the scanning system is determined for the whole measurement volume of anSPM, it can be converted to yield local dimensional uncertainty values that can in turn be used for evaluation of uncertainties related to the acquired data and for further data processing applications (e.g. area, ACF, roughness) within direct or statistical measurements. These have been implemented in the software package Gwyddion.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/KAN311610701" target="_blank" >KAN311610701: Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Measurement Science and Technology

  • ISSN

    0957-0233

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    22

  • Číslo periodika v rámci svazku

    2011

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus