Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Comparison of the performance of the next generation of optical interferometers

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F12%3A%230000721" target="_blank" >RIV/00177016:_____/12:#0000721 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Comparison of the performance of the next generation of optical interferometers

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Six European National Measurement Institutes (NMIs) have joined forces within the European Metrology Research Programme funded project NANOTRACE to develop the next generation of optical interferometers having a target uncertainty of 10 pm. These are needed for national metrology institutes to provide improved traceable dimensional metrology that can be disseminated to the wider nanotechnology community thereby supporting the growth in nanotechnology. Several approaches were followed in order to developthe interferometers. This paper briefly describes the different interferometers developed by the various partners and presents the results of a comparison of performance of the optical interferometers by using an x-ray interferometer to generate traceable reference displacements.

  • Název v anglickém jazyce

    Comparison of the performance of the next generation of optical interferometers

  • Popis výsledku anglicky

    Six European National Measurement Institutes (NMIs) have joined forces within the European Metrology Research Programme funded project NANOTRACE to develop the next generation of optical interferometers having a target uncertainty of 10 pm. These are needed for national metrology institutes to provide improved traceable dimensional metrology that can be disseminated to the wider nanotechnology community thereby supporting the growth in nanotechnology. Several approaches were followed in order to developthe interferometers. This paper briefly describes the different interferometers developed by the various partners and presents the results of a comparison of performance of the optical interferometers by using an x-ray interferometer to generate traceable reference displacements.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    R - Projekt Ramcoveho programu EK

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Metrologia

  • ISSN

    0026-1394

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    49

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    13

  • Strana od-do

    455-467

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus