Uncertainty Evaluation of Balanced S Parameter Measurements
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F16%3AN0000063" target="_blank" >RIV/00177016:_____/16:N0000063 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00177016:_____/16:N0000088
Výsledek na webu
<a href="http://ieeexplore.ieee.org/document/7540616/" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/document/7540616/</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/CPEM.2016.7540616" target="_blank" >10.1109/CPEM.2016.7540616</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Uncertainty Evaluation of Balanced S Parameter Measurements
Popis výsledku v původním jazyce
This paper describes the development of a calibration kit for measuring the scattering parameters (S-parameters) of balanced devices on a printed circuit board (PCB) substrate as well as the estimated uncertainty up to 25 GHz. The calibration kit is composed of a thru, reflect and a set of transmission lines to calibrate a Vector Network Analyzer (VNA) using the Thru Reflect Line (TRL) calibration technique. This work has been carried out through electromagnetic simulations using the Computer Simulation Technology (CST) software. The uncertainties of the S-parameters of each standard are estimated and finally propagated to the S-parameters of the device under test (DUT) using the Monte Carlo method.
Název v anglickém jazyce
Uncertainty Evaluation of Balanced S Parameter Measurements
Popis výsledku anglicky
This paper describes the development of a calibration kit for measuring the scattering parameters (S-parameters) of balanced devices on a printed circuit board (PCB) substrate as well as the estimated uncertainty up to 25 GHz. The calibration kit is composed of a thru, reflect and a set of transmission lines to calibrate a Vector Network Analyzer (VNA) using the Thru Reflect Line (TRL) calibration technique. This work has been carried out through electromagnetic simulations using the Computer Simulation Technology (CST) software. The uncertainties of the S-parameters of each standard are estimated and finally propagated to the S-parameters of the device under test (DUT) using the Monte Carlo method.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/7AX13033" target="_blank" >7AX13033: Metrology for new electrical measurement quantities in high-frequency circuits</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
2016 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2016)
ISBN
978-1-4673-9134-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
1-2
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Piscataway, USA
Místo konání akce
Natl Res Council, Ottawa, Canada
Datum konání akce
10. 7. 2016
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000383955100165