Verification of nanoindentation devices using atomic force microscopy
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F20%3AN0000075" target="_blank" >RIV/00177016:_____/20:N0000075 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216224:14310/20:00119127
Výsledek na webu
<a href="https://www.confer.cz/nanocon/2019/read/111-verification-of-nanoindentation-devices-using-atomic-force-microscopy.pdf" target="_blank" >https://www.confer.cz/nanocon/2019/read/111-verification-of-nanoindentation-devices-using-atomic-force-microscopy.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.37904/nanocon.2019.8633" target="_blank" >10.37904/nanocon.2019.8633</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Verification of nanoindentation devices using atomic force microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
Nanoindentation has become a popular tool for the exploration of mechanical properties of materials at the nanoscale. However, calibration and traceability issues are often neglected, making the direct comparison of results between different instruments difficult. The direct calibration of the sensors is challenging and requires dedicated instruments leaving indirect calibration as the only option to ordinary users. However, indirect calibration compares only the resulting hardness or modulus of the reference sample and the measured sample. Therefore, it cannot distinguish the source of errors, such as errors in the depth and load sensors, errors in the reference sample properties, contamination of the tip or sample, wear of tip and others. In this contribution we explore the possibility of using measurements of indents by atomic force microscopy for the verification of the depth sensor. Measurements for different nanoindentation devices are presented and compared with a focus on the uncertainties of the method.
Název v anglickém jazyce
Verification of nanoindentation devices using atomic force microscopy
Popis výsledku anglicky
Nanoindentation has become a popular tool for the exploration of mechanical properties of materials at the nanoscale. However, calibration and traceability issues are often neglected, making the direct comparison of results between different instruments difficult. The direct calibration of the sensors is challenging and requires dedicated instruments leaving indirect calibration as the only option to ordinary users. However, indirect calibration compares only the resulting hardness or modulus of the reference sample and the measured sample. Therefore, it cannot distinguish the source of errors, such as errors in the depth and load sensors, errors in the reference sample properties, contamination of the tip or sample, wear of tip and others. In this contribution we explore the possibility of using measurements of indents by atomic force microscopy for the verification of the depth sensor. Measurements for different nanoindentation devices are presented and compared with a focus on the uncertainties of the method.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
21100 - Other engineering and technologies
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Conference Proceedings - NANOCON 2019
ISBN
978-80-87294-95-6
ISSN
2694-930X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
698-703
Název nakladatele
Tanger
Místo vydání
Ostrava
Místo konání akce
Brno, hotel Voroněž
Datum konání akce
16. 10. 2019
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—